| 质谱分析方法和质谱分析设备 |
| WOJP20027826 2020-7-17 发明申请 |
| 2022-1-20 |
| 本发明涉及一种使用质谱仪的质谱分析方法，该方法包括： 计算， 使用质谱仪的控制单元， 计算得到理论质谱， 基于待分析组分的分子式和包含在待分析组分中且存在多种同位素的元素的同位素丰度比， 待分析组分同位素的质量和待分析组分对于每一质量的丰度比； 使用质谱仪预处理单元电离测量目标； 使用质谱仪的质量检测单元检测离子化离子的质量和每个质量中的离子数量； 使用控制单元基于质量检测单元的检测结果计算第一质谱； 使用控制单元，通过比较理论质谱和第一质谱，对于理论质谱的峰值存在于其中的唯一质量，计算配对程度； 并确定， 利用控制单元，根据配对程度， 在测量目标中待分析组分的存在/不存在。该使用质谱仪的质谱分析方法包括： 计算， 通过质谱仪的控制单元， 计算得到理论质谱， 基于待分析组分的分子式和包含在待分析组分中且存在多种同位素的元素的同位素丰度比， 待分析组分同位素的质量和待分析组分对于每一质量的丰度比； 由质谱仪的预处理单元电离测量目标； 由质谱仪的质量检测单元检测电离离子的质量和每个质量中的离子数量； 由控制单元基于质量检测单元的检测结果计算第一质谱； 由控制单元通过比较理论质谱和第一质谱，仅为存在理论质谱的峰值的质量计算匹配度； 以及由所述控制单元基于所述匹配度来确定所述测量目标中的待分析部件的存在/不存在。 |
微信公众号