质谱分析方法和质谱仪
 
US17329341  2021-5-25  发明申请

2022-2-24
 
  提供了一种质谱分析方法,其中使待分析离子与冷却段中的冷却气体接触, 例如离子阱2, 被配置为执行离子的冷却,并且随后将动能施加给离子,以便根据离子的质荷比将离子引入多圈飞行时间质量分离器30或类似装置的飞行空间中。 根据本发明,当待分析离子的已知或估计电荷数高时,冷却气体向冷却部分的供给量被设置为低于当电荷数低时的供给量。 这种操作提高了对具有大分子量和高电荷数的离子的检测灵敏度。
 
仿站