| 质谱分析装置 |
| WOJP18021044 2018-5-31 发明申请 |
| 2019-12-5 |
| 在对标准样品进行分析预定时间之后(S1至S3)， 逐个顺序地选择多个离子光学元件，例如离子导向器，并且向其暂时施加与分析期间所使用的极性不同的直流电压。 同时，连续收集与具有特定m/z值的离子有关的强度数据(S4～S7)。 以这种方式收集数据之后， 针对每个离子光学元件计算施加不同极性的直流电压之前和之后之间的离子强度比率，并且确定该比率是否等于或大于预定阈值。 如果离子光学元件是脏的并且已经充电，则当向其施加与分析期间使用的极性不同的直流电压时，充电被解决，并且离子强度被增强。 因此，当离子强度比等于或大于预定阈值时，离子光学元件被估计为已经带电，并且估计结果被显示在显示单元上(S9至S11)。 由此，能够将多个离子光学元件中的污染部位通知给作业者，从而能够提高维护的容易性。 |
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