| 样品质量数计算方法及装置 |
| CN202311066172.4 2023-8-23 发明申请 |
| 2024-1-5 |
| 本说明书实施例公开了样品质量数计算方法及装置。方法包括：利用同一飞行时间质谱装置在第一、第二飞行路径下对同一样品进行测量，获得第一、第二飞行路径下的飞行时间关于响应强度的质谱图，并获得至少两个标准物质在第一、第二飞行路径下的飞行时间；基于至少两个标准物质在第一、第二飞行路径下的飞行时间，对第一、第二飞行路径下的飞行时间关于响应强度的质谱图进行质量轴校准，以获得第一、第二飞行路径下的m/z关于响应强度的质谱图；对照校准后的质谱图，获得待测样品在第一、第二飞行路径下的质谱图中所在质量峰的飞行时间；基于至少两个标准物质在第一、第二飞行路径下的飞行时间的关系，及待测样品的飞行时间，确定待测样品的质量数。 |
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