| 使用纳米粒子的单粒子自动检测的电感耦合等离子体质谱(SP-A ICP型MS) |
| JP2019189883 2019-10-17 发明申请 |
| 2020-4-30 |
| [问题]通过电感耦合等离子体质谱法进行单颗粒，纳米颗粒技术的样品分析。 [解决方案]离子检测器系统作为由ICP型MS离子信号强度测量的时间的函数以获取对应于未处理样品的数据，所述多个数据点对应于未处理样品的数据信号分布。 每个数据点是离子信号强度，以及与该频率相对应的离子信号强度。 作为离子信号部分的交点的粒子信号部分的信号分布计算从离子信号中分离的粒子的阈值检测，粒子检测阈值，粒子信号部分。 |
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