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焦平面探测器

LU101359 2019-8-16 发明授权

2021-2-18

本发明提出一种用于检测带电粒子的检测装置。探测器的有源区沿主方向延伸几厘米至多1米或更长。这允许将其用作质谱仪装置的焦平面检测器，允许并行地并且在减少的捕获时间内记录由光谱仪提供的所有质荷比。