用于电感耦合电浆质谱仪矩阵偏移校准的系统和方法
 
TW112113258  2019-1-2  发明申请

2023-12-1
 
  本发明描述用于分析复数个连续样本矩阵来校准一分析仪器的系统及方法。一种系统实施例可包括但不限于:一样本分析器件其经组态以自复数个远端取样系统接收复数个样本并判定该复数个样本中之每一者中所含之一或多个所关注的物种之一强度;及一控制器其经组态以基于借由该样本分析器件对具有一第一样本矩阵的一第一标准溶液之分析产生一初级校准曲线并基于借由该样本分析器件对具有一第二样本矩阵的一第二标准溶液之分析产生至少一个次级校准曲线该控制器经组态以根据一矩阵校正因子将该至少一个次级校准曲线与该初级校准曲线相关联。; ..; .
 
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