| 用于完整大分子的Si可循环质量测定的装置。 |
| CH00111718 2018-9-17 发明申请 |
| 2020-3-31 |
| 该装置包括第一质谱仪(1)。 一种低温检测器MALDI-TOF质谱仪，其测量样品中的重分子(3)(带铁的铁蛋白900的实施方案，m=400kDa)的质量分布，和第二质谱仪(5)，其测量同一样品的分子(6)的组分(Eisen)的同位素分布。 在第二质谱仪中测定富集等分试样(57Fe/56Fe)的同位素和参比标准品(7)的质量，以及样品中组分(Eisen)的SL可回收量的测定。 通过在低温检测器MALDI-TOF质谱仪中同时测量完整分子，校准完整分子的质量量。 通过在低温检测器MALDI-TOF质谱仪中同时使用参比样品(负载铁的重组生产的Apo-铁蛋白(11))而无需对未知样品进行同位素稀释，可以对未知样品的完整分子的数量及其质量分布进行定量测定。 |
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