一种质谱仪的校准方法
 
GB2016687  2020-10-21  发明申请

2020-12-2
 
  我们提供了一种评估所获取的质谱的方法,所述方法包括以下步骤:获得已知元素组成的化合物的模型同位素模式,在分析所述化合物时提供从质谱仪获得的质谱数据,以及通过将所述质谱数据与所述同位素模式进行比较以将所述同位素模式中的参考位置与所述质谱数据中的相应候选位置进行匹配来进行位置匹配,所述位置匹配包括:确定所述质谱数据上的似然函数, 表示质谱数据中的每个位置正确地对应于同位素模式的参考位置的似然性,确定各自对应于所确定的似然函数中的局部最大值的一组候选位置,并且在每个候选位置处,基于该位置处的似然函数的曲率来确定相关联的误差条。
 
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