| 飞秒紫外激光剥蚀-气体同位素质谱硫化物四硫同位素微区原位分析系统及方法 |
| CN202310332602.6 2023-3-31 发明申请 |
| 2023-7-7 |
| 本申请涉及一种飞秒紫外激光剥蚀?气体同位素质谱硫化物四硫同位素微区原位分析系统及方法，使用飞秒紫外激光在密闭环境下剥蚀出待测样品的硫化物气溶胶颗粒；利用氦载气将所述硫化物气溶胶颗粒在密闭环境下携带进入SF6气体制备装置中，与氦气稀释的BrF5气体进行反应，获得含SF6气体的混合气；除去所述含SF6气体的混合气中的杂质气体，获得纯净的目标SF6气体，将所述纯净的目标SF6气体供入气体同位素比值质谱仪进行测试，得到四硫同位素组成的测试结果。本发明将传统激光探针微区原位熔蚀取样与氟化和SF6制备由原地同时进行，改为异地先后完成，避免了红外激光熔蚀?SF6制备过程中因反应不完全和氟化剂与基体组分反应产生的分馏和影响。 |
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