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ICP-MS分析系统和方法

CN202211734813.4 2022-12-31 发明申请

2023-11-24

本发明提供了ICP?MS分析系统和方法，所述ICP?MS分析系统包括离子源以及依次设置的采样锥、截取锥和质量分析器，所述采样锥、截取锥和质量分析器设置在真空腔内；还包括；锥形结构件设置在所述真空腔内，且处于采样锥和质量分析器之间；所述锥形结构件前端是空心锥形，并具有开口，后端是筒形网状结构。本发明具有检出限低等优点。