| 一种基于临界孔切割进样的微纳米单颗粒质量仪 |
| CN202310735474.X 2023-6-20 发明申请 |
| 2023-11-14 |
| 本发明公开了一种基于临界孔切割进样的微纳米单颗粒质量仪，涉及单颗粒质谱仪技术领域，包括微纳米气溶胶切割进样单元、微纳米气溶胶聚焦进样单元、测径单元和质量分析单元，气溶胶由进样口进入，第二撞击板位于扩散锥的一端且与临界孔相对设置，缓冲腔位于扩散锥的外侧，缓冲腔与微纳米气溶胶聚焦进样单元的连通，微纳米气溶胶聚焦进样单元、测径单元和质量分析单元依次连通，微纳米气溶胶聚焦进样单元设置有第一差分室出口和第二差分室出口，质量分析单元设置有第三差分室出口。本发明可以实现在不借助外部气溶胶切割进样装置和额外抽气泵的条件下，实现单颗粒质谱仪对几十至两三百纳米气溶胶颗粒的在线监测。 |
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