| 用于将离子注入静电阱的装置和方法 |
| US18159040 2023-1-24 发明申请 |
| 2023-6-8 |
| 一种质谱方法，包括：通过一组静电透镜将第一离子包引入到静电阱质量分析器中，其中，在引入第一离子包期间，透镜以第一操作模式操作或者将第一预定量值的注入电压施加到质量分析器的电极上； 使用所述质量分析器对所述第一离子包进行质量分析； 通过所述透镜组将离子的第二包引入到所述质量分析器中，其中，在所述第二包的引入期间，所述透镜以第二操作模式操作或者将第二预定量值的注入电压施加到所述质量分析器的所述电极； 以及使用所述静电阱质量分析器对所述第二离子包进行质量分析。 |
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