| 用于检查分析器系统的质谱仪的质量轴校准的有效性的技术 |
| WOEP20076027 2020-9-17 发明申请 |
| 2021-3-25 |
| 一方面， 本发明涉及一种用于检查分析器系统的质谱仪(MS)的质量轴校准的有效性的方法， 该方法包括：获得跨越质谱仪的预定m/z测量范围的质量轴检验样品，并自动处理质量轴检验样品， 包括使用MS对MS的预定m/z测量范围内的至少两个质量轴点执行不同类型的多个全扫描模式MS测量，以获得测量数据， 其中不同类型包括至少一个正模式下的第一全扫描MS测量值和一个负模式下的第二测量值，或者至少一个用于第一质量过滤器或质谱仪的第一全扫描测量值和一个用于第二全扫描模式的第二全扫描测量值。 质谱仪的第二质量过滤器； 其中选择多个不同的全扫描MS测量，使得在质谱仪中的最大测量时间低于5分钟， 将所述至少两个质量轴点中的每一个的测量数据与相应的参考数据进行比较，并且基于所述比较步骤的结果来确定质量轴校准条件是否不合格。 |
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