| 一种质谱仪及质谱仪的质量校准方法 |
| WOJP18003760 2018-2-5 发明申请 |
| 2019-8-8 |
| 矩阵导出峰值信息取得部(31)基于仅对矩阵的样本进行分析的结果，生成汇总各种矩阵导出离子及其理论m/z值的峰值列表，并将其存储在矩阵导出峰值信息存储部(32)中。 如果获得了目标样品的实际测量质谱，则用于质谱校准的标准峰检测单元(33)使用与用于分析的基质相对应的峰列表来识别实际测量质谱中出现的基质衍生的离子峰。 质量校准信息计算单元(35)从对于所识别的峰值实际测量的m/z值和理论m/z值中查找质量校准信息， 以及质量校准处理单元(37)使用质量校准信息来校正实际测量质谱中目标化合物衍生峰的m/z值。 因此，即使当不能以足够的强度测量来自参考物质的离子时，也可以在不使用参考物质的情况下执行精确的质量校准。 |
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