| 质谱分析装置的机器差异校正方法 |
| WOJP21000235 2021-1-6 发明申请 |
| 2022-2-10 |
| 根据本发明的质谱分析中的信号强度比的机器差异校正方法，该方法包括：使用质谱仪测量包含两种或更多种校准物质的校准物质，并获得校准物质的各自信号峰值的步骤； 获取两种或多种校准物质中的一种校准物质的信号峰值强度与另一种校准物质的信号峰值强度的信号峰值强度比的步骤； 从信号峰值强度比获得校正公式的步骤； 使用质谱仪测量包含两种或更多种分析物物质的样品，并获得分析物物质的各自信号峰的步骤； 获取所述两种或多种校准物质中的一种分析物物质的信号峰值强度与另一种分析物物质的信号峰值强度的信号峰值强度比的步骤； 以及使用校正公式校正分析物物质的信号峰值强度比的步骤。 |
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