| 质量分析装置和质量分析方法 |
| JP2018002760 2018-1-11 发明授权 |
| 2019-4-24 |
| [a]含有杂质如21的第一检测物质，而不增加第一检测物质的尺寸，可以缩短测量时间和用于质谱分析的质谱仪。 [溶液]1由有机化合物制成的第一材料， 所述第二化合物由质谱重叠材料11中的物质2或更多组成， 包括通过质谱分析装置110分析样品， 质谱的每一种标准2物质， 峰1材料的质谱不与A重叠， 基于峰值1材料的峰值强度的第二非线性关系与Bf重叠， 第二峰强度质谱C的样品1材料， 通过从总强度减去FB估计的关系，以预定的时间间隔计算每个峰的峰强度，提供第一强度计算净质谱峰校正部分217D1材料。 [附图]图10 |
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