| 成像分析仪 |
| JP2018231434 2018-12-11 发明申请 |
| 2020-6-18 |
| [问题]通过用控制PC监视分配装置的状态，当测量点的数量连续时，对测量区域中的样品进行质谱分析。 将用户指定的测量区域的光学显微图像加到样品[A]上，控制部21确定测量区域周围的目标区域为矩形区域。 有效/无效判断部分22和二值化处理部分23， 对于包括在一个区域中的每个小区域的控制对象，第一和第二组1被划分为彼此重叠的测量区域，第二组“1”的标志为1，第一无效标志为“0”被分配给组2。 压缩处理部分被包括在由每个小区域一个确定的对象区域中，以便获得形成标志数据的二进制数据串，这两个数据串具有压缩长度。 控制单元2被控制在第一小区域的压缩数据的区域内。表示初始位置信息的信息被发送到装置主体1，该装置主体1在分析和解释时是相同的。 图1[附图] |
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