| 用于包括有机和无机材料的样品的质谱分析的激光解吸，烧蚀和电离系统 |
| US17516444 2021-11-1 发明申请 |
| 2022-2-24 |
| 用于样品分析的系统和方法包括使用第一激光源向样品施加第一光束以从样品的位置解吸有机材料，以及使用第二激光源电离解吸的有机材料以产生电离的有机材料。 然后使用质谱仪分析离子化的有机材料。 然后将来自第一激光器的第二光束施加到样品上，以从样品的位置烧蚀无机材料。 然后使用第二激光源电离烧蚀的无机材料以产生电离的无机材料。 然后使用质谱仪分析离子化的无机材料。 在分析期间，还可以捕获样品的一个或多个图像并将其链接到所收集的分析数据。 |
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