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质谱分析装置和质谱分析方法

WOJP20033694 2020-9-4 发明申请

2022-3-10

本发明包括：存储单元411，其存储低于所获得的最大测量离子强度的参考值；对于具有规定的质荷比的离子，通过优化质谱分析装置的各部分的测量参数和参数调整单元43，当测量包括具有规定质荷比的离子的样品时，参数调整单元43调整各部分的测量参数，使得测量的离子强度成为参考值。