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使用改进的离子注入的静电阱质谱仪

CN201180062947.X 2011-12-29 发明申请

2013-8-28

公开了一种分析静电阱(14)中的质谱分析的方法。静电阱(14)限定静电场体积，并且包括具有静止的非倾斜电势的阱电极。该方法包括将连续的离子束注入到静电场体积中。