| 用于处理由电子显微镜产生的能量色散X射线分析数据的方法 |
| EP20193412 2020-8-28 发明申请 |
| 2021-3-3 |
| 100一种处理通过透射电子显微镜采集的EDX STEM图像的方法，包括步骤：提供101一系列EXX STEM图像，每个EXX STEM图像包括一组像素，每个像素包括至少一个单元光谱。 从整个单元光谱中进行104个主成分分析，以确定发射峰。 形成108包括所述发射峰的和谱。 对110和谱建模，以便至少确定111所述发射峰的位置。 从和谱模型对113每个单位谱建模，保持先前确定的位置。 |
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