质谱仪进行校准的方法
 
GB1613890  2016-8-12  发明申请

2016-9-28
 
  本发明公开了一种校准质谱的方法。所述的质谱仪,包括第一极,第二质量分析器和检测装置。该方法包括校准第二在第一时间质量分析器,校准第一极第一包括 : a)在第二时间延迟之后的每一个确定多个选择质量块的相应值的幅度的RF电压和DC电压施加到电极的第一极,b)拟合选定的质量的功能的射频电压和直流的幅度值电压对应的多个所选的质量,c)检测所选择的质量的质量范围的滤波窗口的宽度,d)评价的峰值位置偏移和/或所述过滤窗宽度的偏差,和e)重复校准步骤在一定条件下进行。
 
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