AEMS自动调谐
 
US17999637  2021-5-21  发明申请

2023-6-29
 
  计算ADE装置、OPI或离子源装置的至少一个参数的最佳值。 对于ADE装置、OPI或离子源装置的至少一个参数的多个参数值中的每个值,使用处理器执行三个步骤。 首先,将所述至少一个参数设置为所述值。 第二,指示ADE装置、OPI、离子源装置和质谱仪产生样品的一个或多个强度对时间的质量峰。 第三,针对所述一个或多个强度对时间质量峰的至少一个特征计算特征值。 产生与所述多个参数值相对应的多个特征值。 根据所述多个特征值为所述至少一个参数计算最佳值。
 
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