质谱法中气流参数的异常检测
 
US17453683  2021-11-5  发明申请

2022-5-26
 
  提供了一种质谱分析(MS)设备。 MS装置包括质谱仪,耦合到质谱仪的电离源,以及耦合到电离源的流注入系统(FIS)。 所述电离源被配置为向所述质谱仪的入口提供分析物的电离气流。 所述电离源还被配置为提供第二气体的第二气体流。 MS装置被配置为测量分析物的质谱(MS)信号。 MS装置还被配置为分析分析物的MS信号对第二气流的参数或第二气流的状态的依赖性,并基于所分析的依赖性来确定装置的状态。
 
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