| 单粒子电感耦合等离子体质谱粒度分级和计数方法、系统、计算机程序和计算机可读数据载体 |
| WOIB22061334 2022-11-23 发明申请 |
| 2023-6-1 |
| 本发明涉及一种单颗粒电感耦合等离子体(ICP)质谱法颗粒分级和计数方法，包括：提供或接收使用ICP质谱仪检测的颗粒的强度-计数直方图，所述强度代表颗粒检测，所述计数代表颗粒检测频率; 提供或接收质量通量校准数据或校准曲线数据，所述校准曲线数据将强度测量值或ICP质谱仪的数据与每个采集间隔或停留时间检测到的材料质量相关联； 使用所述质量通量校准数据或所述至少一个质量通量校准曲线数据来确定所检测的颗粒的颗粒质量，使用所确定的颗粒质量来确定所检测的颗粒的颗粒体积，以及使用所确定的所检测的颗粒的颗粒体积和所确定的或归属的所检测的颗粒的几何形状或形状来确定所检测的颗粒的颗粒尺寸。 |
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