| 一种集成基质涂覆功能的MALDI-TOF质谱仪及其使用方法 |
| CN202211739127.6 2022-12-31 发明申请 |
| 2023-5-2 |
| 本发明涉及质谱分析技术领域，具体涉及一种集成基质涂覆功能的MALDI?TOF质谱仪及其使用方法，所述的一种集成基质涂覆功能的MALDI?TOF质谱仪包括：样品进出区域；离子飞行检测区域，用于对样品进行检测；基质喷涂区域，位于离子飞行检测区域、样品进出区域之间，用于对样品进行基质喷涂；光学系统，用于为离子飞行检测组件提供检测激光；真空系统，用于为离子飞行检测区域、基质喷涂室提供真空环境；数据采集成像系统，与离子飞行检测组件电性连接，用于对质谱数据进行处理并成像。本发明将基质涂覆、真空干燥和质谱检测成像三个步骤集成于一体，可以有效减少样品前期处理时间，降低了样品在不同装置间转移的污染概率，检测更精准，且设备使用方法简单。 |
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