| 质谱成像质量测量中长时间光谱的保存 |
| DE102019103147 2019-2-8 发明授权 |
| 2020-1-23 |
| 本发明涉及在样品薄片上的成像质谱分析，特别是通过基质辅助激光解吸(MALDI)进行电离，其中高横向分辨率装置包括数百万个质谱和在许多小时内的成像(相当亿)。 此处质谱质量流逝小时。 本发明在识别的基础上有了明显的提高， 其中质量光谱的降低是由于在几个小时内连续地连续测量仅串联的检测器部分的增益的降低， 并且每个离子的离子数的大部分产生一个减少的可用脉冲，该脉冲可追溯到更难控制的现象。 在本发明中，现在提出，仅调节检测器的增益，从而不仅补偿了检测器增益的降低，而且补偿了每个离子产生脉冲(例如激光发射)中有用离子数目的降低。 |
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