| 用于评估由质谱仪产生的质量分析数据的质量的方法和系统 |
| WOIB22058265 2022-9-2 发明申请 |
| 2023-3-9 |
| 用于评估由质量分析设备产生的质量分析数据的质量的方法和系统，包括收集给定化合物的质谱数据，基于所收集的质谱数据导出测量的同位素轮廓，确定预测的同位素轮廓，确定所述质量分析数据的第一质量分数，所述第一质量分数基于所述主峰的强度与所述一个或多个同位素峰的强度之间的关系，确定所述质量分析数据的第二质量分数， 所述第二质量分数基于所述质量分析数据的信噪比，确定作为所述第一质量分数和所述第二质量分数的组合的总体质量分数，以及基于所确定的总体质量分数评估化合物库的质量。 |
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