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具有在高压下的离子迁移率分析器的质谱系统

US17737622 2022-5-5 发明申请

2022-9-1

本发明提供一种混合质谱系统，其包括离子源，第一俘获离子迁移谱(TIMS)分析器和质量分析器，其中TIMS分析器位于第一真空室中并在高于500Pa的高压下操作，以及用于操作混合质谱系统的方法。