| 质量分析装置和质量分析方法 |
| US16041675 2018-7-20 发明申请 |
| 2019-1-24 |
| 本发明提供一种质量分析装置及质量分析方法，能够目视且清楚地识别难以分析的辅料的存在。 一种用于质量分析的装置，分析包含待测物质的样品，该装置包括 : 显示单元； 存储单元，存储通过相对于物质的质谱区域的计算获得的理论峰值； 匹配度计算单元，从区域中的样品的质谱和理论峰中的每一个具有的多个峰计算匹配度； 匹配度显示控制单元，用于在显示单元上显示匹配度； 以及叠加显示控制单元，以与质荷比一致的方式叠加显示样品的质谱和理论峰。 |
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