| 质量分析装置和质量分析方法 |
| US16041679 2018-7-20 发明申请 |
| 2019-1-24 |
| 公开了一种质量分析设备和方法，其中在不扩大设备的情况下提高了包括第二材料的第一材料的检测精度，并且减少了测量时间。 一种用于分析样品的质量分析装置，所述样品包含第一材料和至少一种第二材料，所述第一材料包括有机化合物，所述第二材料包括有机化合物并且具有与所述第一材料的质谱峰重叠的质谱峰，所述质量分析装置包括峰校正单元， 其中，当不与第一材料的峰A重叠的峰A和与第一材料的峰B重叠的峰B的强度比(峰B)/(峰A)为校正系数(W)时，通过从样品中第一材料的质谱的峰C的强度减去W×(峰A的强度)来计算第一材料的质谱的净峰D的强度。 |
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