| 显微镜系统及其调校方法及测序系统 |
| CN201811278035.6 2018-10-30 发明申请 |
| 2021-2-5 |
| 本发明公开了一种显微镜系统的调校方法，调校方法包括步骤：利用光源发射经过分划板的光至物镜安装面，分划板具有至少一个标识图案；获取物镜安装面反射的光形成的标识图案的第一像；利用光源发射经过分划板的光至载物面；获取载物面反射的光形成的标识图案的第二像；以及调节载物平台使标识图案的第二像和标识图案的第一像重合，以使载物面平行于物镜安装面。调校方法提高了检测在载物面与物镜安装面是否平行的效率。另外，在载物面与物镜安装面不平行时调节载物平台，使得载物面平行于物镜安装面，调校过程简单。本发明还公开了一种显微镜系统及测序系统。 |
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