| 用于质谱分析的进样系统 |
| US17474979 2021-9-14 发明申请 |
| 2022-3-17 |
| 公开了一种用于质谱仪的表面相互作用进样(SISI)系统，其提高了灵敏度并降低了化学背景。 SISI包括具有入口孔的沉降室，由电离源产生的离子进入位于入口孔前面的MS撞击表面， 由此，从入口孔进入沉降室的高速气体射流撞击撞击表面，将离子和分子重新密封到沉降室中。 冲击表面可以是沉降室表面之一或放置在沉降室内的额外表面。 冲击表面可以相对于气体射流正交或成角度。 加热撞击表面以将热能施加到射流上，从而促进离子化颗粒从附着的杂质中释放出来。 释放的离子和分子从出口朝向质谱仪入口离开沉降室。 |
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