| 质量分析装置及校准方法 |
| JP2019108809 2019-6-11 发明申请 |
| 2020-12-17 |
| [问题]减少质量校准样品制备的时间和努力。 [解决方案]根据本发明的一个方面，一种质量分析器， 用激光束(31)照射样品， 32， 33)包括激光照射， 激光解吸电离离子源，用于使用一种组分电离样品； 分析部(41)， 42)响应于检测到的m/z离子分离， 包括： 用于产生离子到质量分析器以分析分析物迁移的离子源， 由激光照射位置进行离子照射， 以及， 可以安排由离子收集位置产生的激光束的照射， 通过激光束(23)和由待电离材料组成的靶的照射， 将激光照射到靶上， 由此生成基于离子分析部分析得到的结果，校正信息取得部(51)取得质量校正信息和质量校正信息，使用该质量校正信息，在校正部(53)对质量校正试样进行质量校正时，提供质量校正试样。 图1[附图] |
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