| 一种质谱仪基本参数在轨标定的方法 |
| US17716090 2022-4-8 发明授权 |
| 2022-10-4 |
| 本发明涉及质谱仪基本参数标定技术领域，提供了一种质谱仪基本参数在轨标定方法。 利用熔融硅酸盐矿物能够吸附环境中气体的特点，在真空条件下，对硅酸盐矿物进行加热，得到熔融硅酸盐矿物。 将熔融的硅酸盐矿物置于具有标准气体的环境中吸附，快速冷却得到标准样品，将标准样品预装入质谱仪的热控装置中。 当质谱仪进入确定的轨道进行物质测试时，对标准样品进行在轨加热，使吸附的标准气体释放到质谱仪中，实现质谱仪基本参数的标定。 |
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