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通过质谱法的纳米颗粒辅助纳米级分子成像

US17809851 2022-6-29 发明申请

2022-12-22

描述了用于质谱分析的方法和装置，具体地，描述了纳米颗粒植入作为二次离子和更一般地二次颗粒的基质的用途。光子束源或纳米颗粒束源可以用作解吸源或初级离子/初级颗粒源。