| 基质辅助激光解吸电离质谱仪及方法 |
| JP2021089812 2021-5-28 发明申请 |
| 2022-12-8 |
| 挑战：提供一种能够高灵敏度且高精度地进行被分析物的分析的MALDI质谱分析方法。荧光染色工序，其利用通过照射包含第一照射波长的光而发出具有第一发光波长的第一荧光的荧光材料对被分析物进行荧光染色，以及基质准备工序，其准备通过照射包含第二照射波长的光而发出具有第二发光波长的第二荧光的基质； 试样准备工序，在所述试样准备工序中，将荧光染色后的被分析物与基质混合而成的试样置于试样板上，照明光照射工序，在所述照明光照射工序中，对所述试样照射包含第一照明波长和第二照明波长的照明光，以及荧光强度分布测定工序，基于所述第一荧光和第二荧光的强度分布，测定由所述试样发出的第一荧光和第二荧光的强度分布， 存在指定激光束照射目标位置的激光束照射目标位置，所述激光束照射目标位置指定使分析物对象电离的激光束的照射目标位置，以及在照射目标位置照射激光束的电离步骤。[选定图]图2 |
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