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质谱仪校准

GB1912494 2019-8-30 发明申请

2019-10-16

本发明公开了一种处理质谱数据的方法，包括进行直接校准测量以确定质谱仪器在校准时间的校准偏移，以及确定在多个采集周期内持续存在的一组本征离子种类。然后，直接校准测量值与校准偏移的预期变化以及本征离子种类集合一起用于计算质谱仪器在校准时间之外的一个或多个感兴趣的时间点的校准偏移。