| 质谱仪和质谱分析方法 |
| JP2021518241 2019-5-8 发明授权 |
| 2022-9-6 |
| 根据本发明一个方面的质谱仪包括： 为了优化影响离子源(31)中的电离效率的n(其中n是2或更大的整数)个参数， 测量控制器(41)，其使各个单元在改变n个参数的值或m(其中m是小于n的整数)个参数的值集的同时，对包含目标成分的样本重复执行测量； 在多个阶段中，参数确定器(53)基于在测量控制器(41)的控制下执行的测量结果，顺序地为每个参数找到最优值。 在物理量不是温度的所有参数之前，优化物理量是温度的至少一个参数。 |
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