落射顶锥壳层光超解析系统及显微镜
 
CN201910175590.4  2019-3-8  发明申请

2020-9-15
 
  本发明提供一种落射顶锥壳层光超解析系统及落射荧光显微镜。落射顶锥壳层光超解析系统包含:发光元件、透镜组及物镜。发光元件发出的激发光通过透镜组后折射为环形光,并聚焦至物镜的后物镜后焦平面,物镜将环形光聚焦形成环形光锥并聚焦于样本位置,环形光锥具有固定的厚度。此外,激发及取像皆使用同一物镜,进而达成落射荧光显微镜。
 
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