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使用基质辅助激光解吸/电离飞行时间质谱仪的分析系统

US17744679 2022-5-15 发明申请

2022-9-1

一种包括质谱仪的分析系统和/或方法。该质谱仪可以被配置为使用至少一个激光射束对样品进行测量，并且在样品上产生用于所述至少一个激光射束的测量数据的分布。对样品的测量是一种制造工艺。制造工艺涉及部件成本。