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通过质谱法的纳米颗粒辅助的纳米级分子成像

US17129444 2020-12-21 发明申请

2021-4-22

本发明描述了用于质谱分析的方法和装置，具体地，使用纳米颗粒注入作为二次离子的基质，更通常是二次颗粒的基质。光子束源或纳米颗粒束源可用作解吸源或初级离子/初级颗粒源。