| 一种干涉-散射增强模式下的暗场显微镜 |
| CN201911054952.0 2019-10-31 发明申请 |
| 2020-1-17 |
| 本发明公开一种干涉?散射增强模式下的暗场显微镜，包括用于发出光线的光源、由若干个反射镜组成的反射光路以及设置于待测样品上方的检测装置，光源发出平行光束经过待测样品后进入反射光路内，并经反射光路再次以平行光束经过待测样品，待测样品发生散射而被检测装置所检测。相对现有技术，本发明技术方案具有结构简易、方便操作且检测灵敏、可靠性高等优点，相对现有的暗场显微镜，本发明具有显著提高显微镜分辨率和应用范围、满足纳米尺度的观测和成像要求，搭建成本低廉，具有能在普通实验室普及和应用等优点。 |
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