| 质谱仪和质谱分析方法 |
| WOJP20009456 2020-3-5 发明申请 |
| 2020-10-22 |
| 根据本发明，实现了一种质谱仪，该质谱仪在保持定量分析所需的灵敏度的同时，为装置的m/z值的偏移提供了证据，并且该质谱仪补充了由于m/z值的偏移而减少的离子量。 该质谱仪包括：电离单元121，用于电离样品； 质量分析单元122，用于筛选离子； 检测单元123，用于测量被屏蔽的离子的强度； 以及用于控制其操作的控制单元124。 控制部具备：质量分析控制部，切换质量分析部的控制条件，选择与从目标成分导出的m/z值接近的多个m/z值； 离子强度检测单元520，用于检测具有选择的m/z值的离子强度； 分量变化量计算单元530，用于计算检测到的离子强度的变化； 附近图案计算单元540，用于计算具有多个m/z值的离子强度的比率，并计算附近图案； 以及离子强度校正单元550，用于基于附近图案来补充所测量的离子强度的不足。 |
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