| 一种单颗粒气溶胶质谱仪的质量精度提高方法 |
| CN201911388897.9 2019-12-30 发明申请 |
| 2020-4-3 |
| 本发明涉及一种单颗粒气溶胶质谱仪的质量精度提高方法，包括：S1，通过统计学中位数的方法对已知颗粒的飞行时间谱进行初级校正；S2，根据初级飞行时间谱校正的结果，确定采样颗粒的种类和对应的特征峰的精确质荷比；S3，根据所述精确质荷比实现单个采样颗粒飞行时间谱的精确校正。本发明通过统计的方法已知颗粒的飞行时间谱进行初级校正，根据初级飞行时间谱校正的结果，确定采样颗粒的种类和对应的特征峰的精确质荷比；进一步可以根据精确质荷比实现单个采样颗粒飞行时间谱的精确校正，可提高质量精度，实现更精细化的质量分辨，提高颗粒成分识别准确性。 |
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