| 具有过滤和标记的用户定义的按比例缩放的质量缺陷图 |
| US16081676 2017-3-5 发明申请 |
| 2020-10-1 |
| 描述了一种在质谱仪中利用用户定义的质量缩放，过滤和标记来确定质量缺陷图的方法。 该方法的实现包括： (i)从所述数据生成质量缺陷图， (ii)过滤质量缺陷图中不具有相关同位素离子的所有离子，(iii)选择未识别离子，(iv)确定未识别离子的同位素模式，(v)识别由未识别离子的同位素模式所指示的一种或多种元素； (vi)为未识别离子搜索包含由同位素模式表示的一种或多种元素的公式，(vii)确定已识别离子的化学式，和(viii)在屏幕上显示未识别离子的化学式。 |
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