| 四极型质量分析装置 |
| WOJP17023841 2017-6-29 发明申请 |
| 2019-1-3 |
| 在本发明中，一种参比样品的分析控制单元的控制下重复测量(94)在光盘施加的电压通过电压调整单元(96)转换倍增管电极(61)的检测部(6)稍改变。每次测量获得的质谱，频谱模式确定单元(93)判断测量质谱的图案相匹配的图案；参考该参考质谱样品的化合物数据库(92)中，并且将所述光盘时的电压设定值的匹配的问题。质谱，其中图案通过改变施加的电压调节的离子透镜(3)，灵敏度等方面的性能可能会因尘垢或朝向不稳定性等所述透镜电极。然而，当所述检测单元(6)等污渍，不容易影响，能够避免性能的不稳定性。 |
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