产业集群信息网

产业专利数据

标定双ADC采集系统

CA2873818 2013-5-16 发明申请

2013-11-21

双增益ADC校准的方法检测器系统被公开，包括将测试信号通过高增益信号路径，以产生第一信号10和测试通过的信号通过低增益信号路径产生第二信号6。第一信号之间的时间差，1210和第二的信号6然后确定。数据从两个ADC5，9然后被缝合到需要形成复合质谱而无需校正两个ADC之间的相位5，9。