| 用于高通量电荷检测质谱分析的离子阱阵列 |
| US17058561 2019-1-11 发明申请 |
| 2021-7-15 |
| 一种静电线性离子阱(ELIT)阵列，包括多个细长的电荷检测筒，所述电荷检测筒首尾相接地设置，并且每个电荷检测筒限定了轴向通道，所述轴向通道中心延伸穿过所述轴向通道， 多个离子镜结构，每个离子镜结构限定一对轴向对齐的空腔和中心延伸穿过其中的轴向通道， 其中在每个圆筒的相对端部之间设置有不同的离子镜结构， 以及前和后离子镜，每个离子镜限定至少一个空腔和中心延伸穿过该空腔的轴向通道， 前离子镜位于电荷检测筒装置的一端，后离子镜位于电荷检测筒装置的相对端， 其中电荷检测筒，离子镜结构，前离子镜和后离子镜的轴向通道同轴以限定中心穿过ELIT阵列的纵轴。 在第二方面，ELIT阵列包括多个非同轴ELIT区域，其中离子被选择性地导入每个ELIT区域。 |
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